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数字化转型拓荒赛,杰锐思靠什么领跑AI质检赛道?

2021年6月30日,DIC EXPO 2021国际显示技术及应用创新展,在上海新国际博览中心盛大开幕。作为行业领先智能检测设备智造专家,杰锐思AI+光学膜材检测设备强势登场。

上海2021年7月3日 /美通社/ -- 2021年6月30日,DIC EXPO 2021国际显示技术及应用创新展,在上海新国际博览中心盛大开幕。来自全球各地顶尖的显示、触控、智能装备和消费电子产品企业,50000+专业观众齐聚一堂共话行业发展新生态。

作为行业领先智能检测设备智造专家,杰锐思AI+光学膜材检测设备强势登场。该设备广泛应用于屏幕制造前端的膜材缺陷检测,主要包含扩散膜、偏光膜、OC膜、装饰膜等多种光学薄膜,可全面代替人工,实现缺陷高精度稳定检出,产品出货漏检率降至0.3%以下。

杰锐思展位现场
杰锐思展位现场

极致生产趋势要求下智能制造装备升级

随着智能产品终端设备的快速迭代,对制造业的生产效率和生产质量也提出了更高的要求。目前制造业生产车间大多数还停留在人工检测,人工检测效率因人而异,且无法大幅提升。

杰锐思自2010年成立以来,深耕泛3C行业的智能生产与检测设备,见证了众多客户目前在检测环节遇到的困难和瓶颈。因此,杰锐思在继续优化智能生产设备的同时,从2016年开始布局新能源行业与半导体行业的智能生产与检测设备,自主研发AI算法,积极听取客户反馈,持续为提升工业生产效率提供全新解决方案。

AI智能质检“新物种”快速得到市场认可

目前除传统泛3C业务外,杰锐思在半导体芯片封装检测领域、新能源外观检测领域也取得了新的突破。

杰锐思半导体芯片检测设备,集镭射打标功能多功能一体,采用自主研发20位高精度转盘式+独立马达,二维&三维AI视觉检测下压控制,实现多尺寸产品高精度力控,下压力矩控制精度≤10%,多测试位稳定检测,已在多家芯片生产龙头企业实现了进口替代。

杰锐思320X测试分选设备
杰锐思320X测试分选设备

除此之外,杰锐思AI检测算法还应用于锂电池外观检测设备,目前可全面代替人工,检测缺陷包括电芯划痕、凹痕、凸包等20余种,漏检率<1%,过杀率<3%。

该设备采集的数据还可以快速集成于客户的数字化生产车间,在工业大数据平台上,可利用分析技术对电池性能等数据进行时效原因分析,找到引起其突变的可能特征因子,以针对性改善、验证,持续性优化,帮助客户提升电池产品品质。该设备在研发阶段已得到多个客户的样本支持,目前已经批量供应于消费类电池的生产检测段

杰锐思锂电池六面外观检测画面
杰锐思锂电池六面外观检测画面

低成本战略下 深度视觉助力品质检测

杰锐思AI智能检测设备,选择采用工业远心相机,配备自主研发深度学习算法,赋予机器深度感知能力。由于被检测产品的多样性、复杂性,只依靠高像素相机远远不能达到感知要求。

杰锐思自主研发的光学感知系统,可根据被测物体的特性,打破机器现有认知体系,赋予机器人对多产品复杂检测对象的深度感知和理解能力,与之匹配的也是大量的算法和高标准的算力要求,帮助客户切实提高品质检测效率,降低品质检测成本,以快速占领市场优势。

创新领跑 智造未来

本次展会圆满结束,杰锐思以高精度、高效能的先进检测技术,向全球客户和伙伴展示了自身在高端检测领域的顶尖实力。未来杰锐思还将不断深耕智能制造,加大研发投入掌握前沿技术,深刻理解企业向智能化领域深入探索所面临的的机遇和挑战,持续开发更为创新的智能化整体解决方案,为实现工业4.0愿景助力!

消息来源:苏州杰锐思智能科技股份有限公司
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